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奥林巴斯BX53P偏光显微镜

型号:

产品时间:2017-08-04

简要描述:

奥林巴斯BX53P偏光显微镜
BX53P偏光显微镜具有鲜明的偏光成像,是地质学家的理想之选。比如矿物鉴定、晶体光学特性的分析和岩石薄片的鉴定等各种研究,都得益于稳定的显微镜系统性和精密的光学系统。
用于锥光镜检和正像镜检的勃氏镜
采用U-CPA锥光观察附件使锥光镜检和正像镜检之间的切换简单而快捷。可以清晰地对焦后焦平面的干涉图样。勃氏镜的视场光阑使其能够始终获取锐利而清晰的锥光图像。

详细介绍

奥林巴斯BX53P偏光显微镜

 奥林巴斯BX53P偏光显微镜具有鲜明的偏光成像,是地质学家的理想之选。比如矿物鉴定、晶体光学特性的分析和岩石薄片的鉴定等各种研究,都得益于稳定的显微镜系统性和精密的光学系统。

用于锥光镜检和正像镜检的勃氏镜

采用U-CPA锥光观察附件使锥光镜检和正像镜检之间的切换简单而快捷。可以清晰地对焦后焦平面的干涉图样。勃氏镜的视场光阑使其能够始终获取锐利而清晰的锥光图像。

无应力光学元件

UPLFLN-P无应力物镜得益于奥林巴斯尖端的设计和制造技术,将内部应力降到了zui低。这就意味着更高的EF值,从而可以得到卓越的图像反差。

种类丰富的补色器和波长板

提供了六种不同的补色器,用于测量岩石和矿物薄片的双折射。测量光程差水平范围从0到20λ。针对更方便的测量和高图像反差, 可以使用B e r e k 和Senarmont补色器,它们能在整个视场内改变光程差级别。

各种补偿板的延迟测量范围

补偿板

测量范围

主要用途

U-CTB厚型Berek

0-11,000nm

较大的延迟测量(R*>3λ)。(结晶、高分子、纤维、光弹性失真等)

U-CBE Berek

0-1,640nm

延迟测量(结晶、高分子、纤维、生物体组织等)

U-CSE Senarmont

0-546nm

延迟测量(结晶、生物体组织等)对比度增强(生物体组织等)

U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ

0-55nm

微小延迟测量(结晶、生物体组织等)
对比度增强(生物体组织等

U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ

0-20nm

U-CWE2 石英楔子

500-2,200nm

延迟的近似测量(结晶、高分子等)

*R表示延迟。
为提高测量精度,建议与干涉滤镜45IF546一起使用。(U-CWE2除外)
 

 


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