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清洁度检测空白试验

型号:

产品时间:2017-12-17

简要描述:

清洁度检测空白试验
重量限值:低于假定分析重量的10%
注释:在非受控的环境条件下(非受控的湿度和温度),使用一个四位天平,Z小可空白试验值为0.3mg。因此为了满足10%标准,在部件试验期间应当至少收集到3mg。

详细介绍

清洁度检测空白试验

1、重量限值:低于假定分析重量的10%
注释:在非受控的环境条件下(非受控的湿度和温度),使用一个四位天平,zui小可空白试验值为0.3mg。因此为了满足10%标准,在部件试验期间应当至少收集到3mg。

2、颗粒数限值:按照相关尺寸,小于假定或者规定数量的10%,各个计算数字均下舍入,
示例:
对于一个粒度,规定数量为16,16*10%=1.6 舍入值=1
结论,空白可接受一个微粒
注释:空白检验文件中所规定的粒度应当尽可能接近部件所能接受的zui大粒度,并且予以选定,从而能够计算出有效的微粒数量。

3、zui大颗粒:IS0 16232-10粒度范围的微粒刚刚低于假定或者规定zui大颗粒的二分之一
示例:zui大可接受粒度X=350um,350um/2=175um  
这是ISO 16232-10所规定的粒度等级G,紧接着较低粒度等级为F级,也就是说对于空白来说,没有微粒大于100um。

4、如果空白水平超过了10%,那么可以提高分析的试验部件的数量,从而可以收集到更多的微粒,以便来满足10%的极限。

关于空白试验及衰减测试详情,请咨询供应商代表,我们将竭诚为您服务!

 


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